Lonizing radiation effects in mos oxides (Biểu ghi số 4062)
[ Hiển thị MARC ]
| 000 -Đầu biểu | |
|---|---|
| Trường kiểm soát | nam a22 7a 4500 |
| 008 - Các yếu tố có độ dài cố định | |
| Trường kiểm soát | 200723b xxu||||| |||| 00| 0 vie d |
| 020 ## - ISBN | |
| Số ISBN | 9810233264 |
| 082 04 - Số phân loại thập phân Dewey | |
| Phiên bản DDC | 23rd ed. |
| Số phân loại DDC | 539.72 |
| Mã hóa Cutter | O375 |
| 100 ## - Tiêu đề chính - Tên cá nhân | |
| Tên tác giả cá nhân | Oldham, Timothy R |
| 245 10 - Tên tài liệu | |
| Tên tài liệu | Lonizing radiation effects in mos oxides |
| Thông tin trách nhiệm | Timothy R Oldham |
| 260 ## - Thông tin xuất bản | |
| Nơi xuất bản | Singapore |
| Nhà xuất bản | World Scientific |
| Năm xuất bản | 1999 |
| 300 ## - Mô tả vật lý | |
| Khối lượng (L) | xiv, 171 p. |
| Kích thước (L) | 23cm |
| 490 ## - Tùng thư | |
| Thông tin tùng thư (L) | International advances in solid state electronics and technology |
| 520 3# - Tóm tắt | |
| Tóm tắt | This volume is intended to serve as an updated critical guide to the extensive literature on the basic physical mechanisms controlling the radiation and reliability responses of MOS oxides. |
| 653 ## - Từ khóa - Ngành đào tạo | |
| Từ khóa | Cơ bản |
| 942 ## - Đăng ký loại hình tài liệu (Koha) | |
| Nguồn khung phân loại | |
| Loại tài liệu (Koha) | Sách |
| Withdrawn status | Lost status | Source of classification or shelving scheme | Damaged status | Not for loan | Permanent Location | Current Location | Date acquired | Full call number | Barcode | Date last seen | Price effective from | Koha item type |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Nam Can Tho University | Nam Can Tho University | 2020-07-23 | 539.72 O375 | MD.17420 | 2020-07-23 | 2020-07-23 | Sách | |||||
| Nam Can Tho University | Nam Can Tho University | 2020-07-23 | 539.72 O375 | MD.17421 | 2020-07-23 | 2020-07-23 | Sách | |||||
| Nam Can Tho University | Nam Can Tho University | 2020-07-23 | 539.72 O375 | MD.17422 | 2020-07-23 | 2020-07-23 | Sách |